如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話,可以
            
                產(chǎn)品名稱: 快速溫度變化(濕熱)試驗(yàn)箱 
            
            
                產(chǎn)品型號(hào):  TC快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱
            
                產(chǎn)品展商: Lab Companion
            
            
            
            
                產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
            
            
            
            
                簡(jiǎn)單介紹
            
            
                Lab Companion TC系列快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱 Fast Temperature Cycle Test Chamber是宏展科技的上等產(chǎn)品,它把產(chǎn)品測(cè)試帶到了一個(gè)全新的階段。高性能Platinum系列試驗(yàn)箱能使箱內(nèi)環(huán)境和被測(cè)產(chǎn)品產(chǎn)生快速溫度變化,從而大大減少了試驗(yàn)時(shí)間,提高了試驗(yàn)的工作效率??焖贉囟茸兓彩贡粶y(cè)產(chǎn)品產(chǎn)生了更大的應(yīng)力,因而也提高了應(yīng)力篩選效率??焖贉囟妊h(huán)試驗(yàn)箱 Fast Temperature Cycle Test Chamber
            
            
                快速溫度變化(濕熱)試驗(yàn)箱
                 的詳細(xì)介紹
            
        
            
	Lab Companion 快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱 Fast Temperature Cycle Test Chamber 
	 
	
 
	
 
	
	快溫變應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱是產(chǎn)品在設(shè)計(jì)強(qiáng)度極限下,運(yùn)用溫度加速技巧(在上、下限極值溫度內(nèi)進(jìn)行循環(huán)時(shí),產(chǎn)品產(chǎn)生交替膨脹和收縮)改變外在環(huán)境應(yīng)力,使產(chǎn)品中產(chǎn)生熱應(yīng)力和應(yīng)變,透過加速應(yīng)力來使?jié)摯嬗诋a(chǎn)品的瑕疵浮現(xiàn)[潛在零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵],以避免該產(chǎn)品于使用過程中,受到環(huán)境應(yīng)力的考驗(yàn)時(shí)而導(dǎo)致失效,造成不必要的損失,對(duì)于提高產(chǎn)品出貨良率與降低返修次數(shù)有顯著的效果,另外應(yīng)力篩本身是一種制程階段的過程,而不是一種可靠度試驗(yàn),所以應(yīng)力篩選是100%對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行的程序。 
	
	對(duì)應(yīng)特點(diǎn): 
	對(duì)應(yīng) IEC規(guī)格試驗(yàn)和汽車相關(guān)規(guī)格試驗(yàn)。
   能夠?qū)崿F(xiàn)在有試樣情況下,1℃~10℃的斜率控制
   冷輸出節(jié)能調(diào)溫調(diào)濕控制系統(tǒng),雙PID及水蒸氣分壓控制,技術(shù)成熟、精度極高??蓪?shí)現(xiàn)高精度的溫度控制。
   在定值運(yùn)轉(zhuǎn)及程序運(yùn)轉(zhuǎn)(斜率控制)中
產(chǎn)品綠色環(huán)保、省耗節(jié)能。通過相關(guān)接口均可進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)控制及數(shù)據(jù)采集。
   溫度運(yùn)轉(zhuǎn)模式:0℃以下的運(yùn)轉(zhuǎn)的話,基本可以做到只用冷凍機(jī)去達(dá)到溫度控制(Dual PID控制 )···加熱器輸出是常OFF。
可模擬汽車行走環(huán)境后零部件重復(fù)快速溫度變化
   例如:-40℃~+125℃的循環(huán)等,評(píng)價(jià)其耐久性。
對(duì)應(yīng)汽車零部件的各種結(jié)露實(shí)驗(yàn)
   溫度變化率:5℃/分以上、10℃/分以上、15℃/分以上、20℃/分以上。
根據(jù)日益增多的半導(dǎo)體,車載電子相關(guān)電子元器件檢測(cè)需求,增加了200L,300L小容量的快溫變?cè)囼?yàn)箱
    新型號(hào)T-200-20,T-300-20,溫度變化率:20℃/min,結(jié)構(gòu)緊湊,功能強(qiáng)大。 
 
	
	
滿足以下標(biāo)準(zhǔn)
 GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
 GB/T 10586 -2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
 GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫
 GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
 GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)
 GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db:交變濕熱(12h + 12h循環(huán))
 GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化
 GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
 GJB 150.3A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:高溫試驗(yàn)
 GJB 150.4A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分:低溫試驗(yàn)
 GJB 150.9A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第9部分:濕熱試驗(yàn) 
	
	
	主要技術(shù)指標(biāo) 
	
	※1 溫度箱按照GB/T5170.2,IEC60068-3-5及濕度箱按照GB/T5170.5,IEC60068-3-6的規(guī)定,環(huán)境溫度+23℃、相對(duì)濕度65±20%rh、額定電壓、無試樣時(shí)。
※2 箱內(nèi)溫度是+20℃。
※3 不包括突出部分。[ ]內(nèi)的尺寸包括突出部分。
※4 該升降溫速率為去掉總溫度區(qū)間的前后10%的升降溫速率的值。 
 
	
	
	
	
	
		
			| 
					產(chǎn)品&規(guī)范 
				 | 
					廠商名稱 
				 | 
					高溫 
				 | 
					低溫 
				 | 
					溫變率 
				 | 
					循環(huán)數(shù) 
				 | 
					循環(huán)時(shí)間
 | 
					備注 
				 | 
		
			| 
					MIL-STD-2164、GJB-1032-90電子產(chǎn)品應(yīng)力篩選
 | 
					
 | 
					工作極限溫度 
				 | 
					工作極限溫度 
				 | 
					5℃/min 
				 | 
					10~12 
				 | 
					3h20min 
				 | 
					
 | 
		
			| 
					MIL-344A-4-16電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選
 | 
					設(shè)備或系統(tǒng) 
				 | 
					71℃ 
				 | 
					-54℃ 
				 | 
					5℃/min 
				 | 
					10 
				 | 
					
 | 
					
 | 
		
			| 
					MIL-2164A-19電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選
 | 
					
 | 
					工作極限溫度 
				 | 
					工作極限溫度 
				 | 
					10℃/min 
				 | 
					10 
				 | 
					
 | 
					駐留時(shí)間為內(nèi)部達(dá)到指定溫度10℃時(shí) 
				 | 
		
			| 
					NABMAT-9492美軍海軍制造篩選
 | 
					設(shè)備或系統(tǒng) 
				 | 
					55℃ 
				 | 
					-53℃ 
				 | 
					15℃/min 
				 | 
					10 
				 | 
					
 | 
					駐留時(shí)間為內(nèi)部達(dá)到指定溫度5℃時(shí) 
				 | 
		
			| 
					GJB/Z34-5.1.6電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選
 | 
					組件 
				 | 
					85℃ 
				 | 
					-55℃ 
				 | 
					15℃/min 
				 | 
					≧25 
				 | 
					
 | 
					達(dá)到溫度穩(wěn)定的時(shí)間 
				 | 
		
			| 
					GJB/Z34-5.1.6電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選
 | 
					設(shè)備或系統(tǒng) 
				 | 
					70℃ 
				 | 
					-55℃ 
				 | 
					5℃/min 
				 | 
					≧10 
				 | 
					
 | 
					達(dá)到溫度穩(wěn)定的時(shí)間 
				 | 
		
			| 
					筆記型計(jì)算機(jī) 
				 | 
					主機(jī)板廠商 
				 | 
					85℃ 
				 | 
					-40℃ 
				 | 
					15℃/min 
				 | 
					
 | 
					
 | 
					
 | 
	
	
	
 
	溫度循環(huán)試驗(yàn)箱◎RAMP試驗(yàn)溫變率列表 
溫度循環(huán)試驗(yàn)箱◎RAMP試驗(yàn)條件列表 
	溫度循環(huán)試驗(yàn)箱◎適用相關(guān)規(guī)范對(duì)照表 
	 
	快速溫度變化試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱,環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱